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Livro Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs Ruijing Shen

Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs

Sheldon X.-D. Tan

Língua

Inglês

Livro Capa mole

Livro Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs Ruijing Shen

Código Libristo: 02597387

Editoras Springer-Verlag New York Inc., abril 2014

This book covers statistical modeling and analysis of VLSI systems with a focus on interconnects, on... Descrição completa

Código Libristo: 02597387

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Sobre o livro

Nome completo Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs

Autor Ruijing Shen, Sheldon X.-D. Tan, Hao Yu

Língua

Inglês

Encadernação Livro - Capa mole

Data de emissão 2014

Número de páginas 306

EAN 9781489987877

ISBN 1489987878

Código Libristo 02597387

Editoras Springer-Verlag New York Inc.

Peso 516

Dimensões 155 x 17 x 18

Categorias

Tecnologia, Engenharia & Agricultura > Eletrónica & engenharia das comunicações > Engenharia eletrónica > Eletrónica: circuitos e componentes

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