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Semiconductor Device & Failure Analysis - Using Photon Emmission Microscopy
Língua
Inglês
Inglês
Livro
Livro de capa dura
Fault detection has become increasingly difficult as integrated circuits become more and more comple...
Código Libristo: 04891639
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494 b
494 b
203.81
€
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Sobre o livro
Nome completo
Semiconductor Device & Failure Analysis - Using Photon Emmission Microscopy
Autor
Wai-Kin Chim
Língua
Inglês
Inglês
Encadernação
Livro - Livro de capa dura
Data de emissão
2000
Número de páginas
288
EAN
9780471492405
ISBN
047149240X
Código Libristo
04891639
Editoras
John Wiley & Sons Inc
Peso
716
Dimensões
176 x 262 x 21
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