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Interfacial Compatibility in Microelectronics
Moving Away from the Trial and Error Approach
Língua
Inglês
Inglês
Livro
Capa mole
This book provides solutions to several common reliability issues in microsystem packaging. It teach...
Código Libristo: 02481545
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Sobre o livro
Nome completo
Interfacial Compatibility in Microelectronics
Língua
Inglês
Inglês
Encadernação
Livro - Capa mole
Data de emissão
2014
Número de páginas
218
EAN
9781447160687
ISBN
1447160681
Código Libristo
02481545
Editoras
Springer London Ltd
Peso
355
Dimensões
155 x 235 x 13
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