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Bias Temperature Instability for Devices and Circuits

Língua InglêsInglês
Livro Capa mole
Livro Bias Temperature Instability for Devices and Circuits Tibor Grasser
Código Libristo: 13786420
Editoras Springer-Verlag New York Inc., agosto 2016
This book provides a reference to one of the more challenging reliability issues plaguing modern sem... Descrição completa
? points 283 b
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This book provides a reference to one of the more challenging reliability issues plaguing modern semiconductor technologies. It introduces a new defect model for metastable defect states, nonradiative multiphonon theory and stochastic behavior.

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Sobre o livro

Nome completo Bias Temperature Instability for Devices and Circuits
Autor Tibor Grasser
Língua Inglês
Encadernação Livro - Capa mole
Data de emissão 2016
Número de páginas 810
EAN 9781493955299
ISBN 1493955292
Código Libristo 13786420
Editoras Springer-Verlag New York Inc.
Peso 1373
Dimensões 155 x 235 x 32

Categorias

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