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Applied Scanning Probe Methods III

Name: Applied Scanning Probe Methods III
Brand: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG
SKU: 01651829
Price: 98.62 EUR
Availability: InStock
Author: Bharat Bhushan
ISBN: 9783642065965

Characterization

Bharat Bhushan

Harald Fuchs

Língua

Inglês

Livro Capa mole

Código Libristo: 01651829

Editoras Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG, fevereiro 2010

Volumes II, III and IV examine the physical and technical foundation for recent progress in applied... Descrição completa

Código Libristo: 01651829

238 b

98.62 €

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Volumes II, III and IV examine the physical and technical foundation for recent progress in applied near-field scanning probe techniques, and build upon the first volume published in early 2004. The field is progressing so fast that there is a need for a second set of volumes to capture the latest developments. It constitutes a timely comprehensive overview of SPM applications, now that industrial applications span topographic and dynamical surface studies of thin-film semiconductors, polymers, paper, ceramics, and magnetic and biological materials. Volume II introduces scanning probe microscopy, including sensor technology, Volume III covers the whole range of characterization possibilities using SPM and Volume IV offers chapters on uses in various industrial applications. The international perspective offered in these three volumes - which belong together - contributes further to the evolution of SPM techniques.